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技術(shù)資料
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二氧化硅的紅外光譜測定

發(fā)布時間:2024-08-01 17:19:29瀏覽:190

       在電力、煤炭等行業(yè)生產(chǎn)環(huán)境中,粉塵中游離二氧化硅含量較高,粉塵的分散度也比較 高,即多為呼吸性粉塵,因此對作業(yè)人員的危害較大,主要包括鼻炎、咽炎、氣管炎、支氣 管炎等呼吸系統(tǒng)疾病。因此,加強對粉塵中游離二氧化硅含量的檢測是一件非常重要和緊迫 的工作。以往檢測均采用“焦磷酸重量法”,該方法存在操作步驟復(fù)雜、使用試劑種類繁多、 檢測周期長、準確性差、試驗室條件要求苛刻等一系列問題,難以滿足現(xiàn)場批量檢測的要求。 為了提高檢測的準確性,實現(xiàn)批量檢測的目的,二氧化硅的紅外光譜測定,可選用 FTIR650 型傅立葉變換紅外光譜儀來檢測粉塵中游離二氧化硅含量。

檢測原理:

α-石英在紅外光譜中于 12.5μm(800cm-1)、12.8μm(780cm-1)及 14.4(694cm-1) μm 處出現(xiàn)特異性強的吸收帶,在一定范圍內(nèi),其吸光度值與α-石英質(zhì)量成線性關(guān)系。通過 測量吸光度,進行定量測定。

檢測儀器及前處理裝置: 

檢測儀器:傅立葉變換紅外光譜儀 

前處理裝置:粉末壓片機、壓片模具、瑪瑙研缽、制樣粉末(光譜純)、紅外烘干箱

制樣準備: 

1. 瓷坩堝和坩堝鉗; 

2. 箱式電阻爐或低溫灰化爐; 

3. 十萬分之一天平; 

4. 200 目過濾篩; 

5. 濾紙、稱量紙 若干; 

6. 無水乙醇; 

7. 手套、脫脂棉、小藥勺、玻璃取樣瓶; 

8. 游離二氧化硅標準品(純度高于 95%); 

9. 采集的粉塵樣品。樣品的采集:根據(jù)測定目的,樣品的采集方法參見 GBZ 159 和 GBZ/T 192.2 或 GBZ/T 192.1,濾膜上采集的粉塵量大于 0.1mg 時,可直接用于本法測定游離二 氧化硅含量。

測定: 

1、樣品處理 準確稱量采有粉塵的濾膜上粉塵的質(zhì)量(G)。然后將受塵面向內(nèi)對折 3 次,放在瓷坩堝 內(nèi),置于低溫灰化爐或電阻爐(小于 600℃)內(nèi)灰化,冷卻后,放入干燥器內(nèi)待用。稱取 250mg 制樣粉末和灰化后的粉塵樣品一起放入瑪瑙乳缽中研磨混勻后,連同壓片模具一起 放入干燥箱(110℃±5℃)中 10min。將干燥后的混合樣品置于壓片模具中,加壓 25MPa, 持續(xù) 3min,制備出的錠片作為測定樣品。同時,取空白濾膜一張,同樣處理,作為空白對 照樣品。

2、石英標準曲線的繪制 精確稱取不同質(zhì)量的標準α-石英塵(0.01mg ~1.00mg),分別加入 250mg 制樣粉末,置 于瑪瑙乳缽中充分研磨均勻,按上述樣品制備方法做出透明的錠片。將不同質(zhì)量的標準石英 錠片置于樣品室光路中進行掃描,紅外軟件以 X 軸橫坐標記錄 1000cm-1~600cm-1 的譜 圖,在 900cm-1 處校正零點和 100%,以 Y 軸縱坐標表示吸光度。 以 800cm-1、780cm-1 及 694cm-1 三處的吸光度值為縱坐標,以石英質(zhì)量(mg)為橫 坐標,繪制三條不同波長的α-石英標準曲線,并求出標準曲線的回歸方程式。在無干擾的情 況下,一般選用 800 cm-1 標準曲線進行定量分析。

3、樣品測定 分別將樣品錠片與空白對照樣品錠片置于樣品室光路中進行掃描,記錄 800cm-1(或 694cm-1)處的吸光度值,重復(fù)掃描測定 3 次,測定樣品的吸光度均值減去空白對照樣品 的吸光度均值后,由α-石英標準曲線得樣品中游離二氧化硅的質(zhì)量(m)。

計算: 

按公式計算粉塵中游離二氧化硅的含量:SiO2(F)= m/G× 100 公式中: SiO2(F)——粉塵中游離二氧化硅(α-石英)的含量,%; m ——測得的粉塵樣品中游離二氧化硅的質(zhì)量,mg; G ——粉塵樣品質(zhì)量,mg

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