據(jù)悉，3月20-22日，以“智能光制造”為主題的2019年慕尼黑上海光博會在上海新國際博覽中心舉行，匯聚來自激光器與光電子、光學(xué)與光學(xué)制造、激光生產(chǎn)與加工技術(shù)、成像，檢測和質(zhì)量控制領(lǐng)域的國內(nèi)外企業(yè)。

   3月21日，蘇州英蒔特儀器科技有限公司很榮幸受邀參加慕尼黑上海光博會，企業(yè)代表人邊學(xué)飛先生現(xiàn)場學(xué)習(xí)了包括光學(xué)與光學(xué)制造、檢測和質(zhì)量控制、紅外技術(shù)及應(yīng)用，為其提供一個創(chuàng)新創(chuàng)業(yè)交流服務(wù)平臺，助其更好實現(xiàn)創(chuàng)業(yè)夢想。

展會現(xiàn)場圖

展會現(xiàn)場

展會當(dāng)天，光學(xué)測試與檢測前沿論壇，華中科技大學(xué)機械科學(xué)與工程學(xué)院江浩副教授講述偏振與橢偏儀器研制與應(yīng)用。

課題圖示

前言論壇學(xué)習(xí)現(xiàn)場

前言論壇內(nèi)容分享

江浩副教授講述偏振與橢偏儀器研制與應(yīng)用課題內(nèi)容包括以下幾點：

1.掃描/透射點鏡（SEMTEM）需要真空操作，不適用與集成測量，需要破壞性測試；

2.原子力顯微鏡（AFM）接觸式測量，生產(chǎn)率低，需要改進探針；

3.光學(xué)形貌儀（OP）干涉原理，無法測膜厚，無法測納米結(jié)構(gòu)；

4.橢偏儀同時測量光學(xué)常數(shù)、膜厚，快速、飛破壞優(yōu)點；

展會活動現(xiàn)場

光博會部分儀器設(shè)備參展

光博會各大展區(qū)

  創(chuàng)業(yè)雖艱難，但持有堅定的信念、勇于探索的精神，就能贏得未來。