異物分析FTIR紅外光譜+SEM掃描電鏡

為什么要做異物分析

在工業(yè)制品上附著了異物和雜質(zhì)，在加工過(guò)程中混入異物，趙成產(chǎn)品不良，。只有能夠盡快查明原因，研究實(shí)施對(duì)策，才可以徹底解決問(wèn)題。但是，連異物是什么都無(wú)法了解。

這個(gè)時(shí)候，主要從兩個(gè)方向進(jìn)行假設(shè)，一是異物為有機(jī)物用顯微紅外光譜儀器進(jìn)行分析，另外假設(shè)異物為無(wú)機(jī)物用掃描電鏡和能譜儀聯(lián)用分析表面元素。

FTIR測(cè)試（顯微傅里葉紅外光譜儀）

顯微紅外（FTIR） 紅外線吸收分子群在污染物分析中識(shí)別有機(jī)化合物的分子結(jié)構(gòu)，主要用來(lái)表征共價(jià)鍵、從而推測(cè)出材料的官能團(tuán)，再推算出材料成分，適合于有機(jī)物的表征，例如常見(jiàn)的塑料、橡膠、溶劑等，為什么適合呢，因?yàn)槌Ｒ?jiàn)的塑料和橡膠的種類有限，加起來(lái)也差不多一百多種。對(duì)于常見(jiàn)的材料用FTIR是一種比較有效的手段，對(duì)于不常見(jiàn)的材料可以通過(guò)表征官能團(tuán)獲取更多的信息，雖不能馬上解決問(wèn)題，但是可以提供解決問(wèn)題的思路和方向。

Nicolet iN10 MX 顯微紅外成像光譜儀操作簡(jiǎn)便，可以快速采集、分析化學(xué)圖像，加深使用者對(duì)多相樣品中的材料化學(xué)物質(zhì)分布的理解。

SEM/EDS測(cè)試（掃描電鏡能譜儀）

掃描電子顯微鏡（SEM）通過(guò)高辨析率成像可以觀察樣品大小0.5 - 3 μm

X射線能譜儀（EDS）可以在小面積上的成像與元素組成，缺陷處元素的識(shí)別/繪圖，顆粒分析（>300nm）

主要用來(lái)檢測(cè)異物的元素組成，檢測(cè)元素范圍是B-U。對(duì)于目前有的元素檢測(cè)手段是非常的廣了，先說(shuō)說(shuō)SEM/EDS的優(yōu)勢(shì)，可以表征顆粒比較小的樣品。毫米級(jí)、納米級(jí)別。測(cè)量速度快，前處理簡(jiǎn)單，時(shí)效性好。

利用 SEM 觀察窗口上配置的全域 / 區(qū)域面分布圖圖標(biāo)能獲取整個(gè)觀察區(qū)域或指定區(qū)域的元素面分布圖?？衫脭?shù)據(jù)管理軟件 SMILE VIEWTM Lab 對(duì)采集的數(shù)據(jù)（如用譜圖、元素面分布圖、線分析對(duì)元素的再指定等）進(jìn)行各種分析。