傅里葉紅外光譜儀的具體原理：化學(xué)成分的可視化：化學(xué)成像，化學(xué)物質(zhì)的分布情況可以基于峰高、峰面積、多變量分析結(jié)果，目標(biāo)光譜的相似度等信息進(jìn)行可視化。

英蒔特：性價(jià)比高的傅里葉變換紅外光譜儀廠家，在檢查樣品可見圖像的同時(shí)進(jìn)行紅外光譜的測量。可以有效地確認(rèn)所測異物的位置，

蘇州英蒔特儀器科技有限公司是一家專業(yè)的檢測儀器供應(yīng)商、服務(wù)商，主要銷售FTIR傅里葉紅外光譜儀器等材料分析類儀器以及實(shí)驗(yàn)室整體檢測方案配套銷售的綜合性公司，坐落于交通便利的江蘇省昆山市。

顯微紅外光譜儀是用光學(xué)顯微鏡觀察微小樣品，再把紅外光路引入到顯微鏡中，調(diào)節(jié)可變光闌的大小，選擇測試樣品中的某一微區(qū)，紅外光聚焦后，進(jìn)行紅外分析。

據(jù)權(quán)威消息人士透露，我國計(jì)劃把大力支持發(fā)展第三代半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)，寫入正在制定中的“十四五”規(guī)劃，計(jì)劃在2021-2025年期間，在教育、科研、開發(fā)、融資、應(yīng)用等等各個(gè)方面，大力支持發(fā)展第三代半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)，以期實(shí)現(xiàn)產(chǎn)業(yè)獨(dú)立自主。

SiC同質(zhì)外延厚度分析 VERTEX 系列光譜儀可用于測量半導(dǎo)體層狀結(jié)構(gòu) 中的層厚度，精度極高。此應(yīng)用是基于對紅外光 在層狀結(jié)構(gòu)中產(chǎn)生的光干涉效應(yīng)的分析，可用于 亞微米量級至毫米量級的厚度分析。